日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪
日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立(SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX,膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X)SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管,实
贵金属分析仪,测金仪,便携式光谱仪
新款快速手持式X射线荧光分析仪 - X-MET7000 eXpress款X-MET7000 eXpress在检测痕量元素时表现出佳性能,同时保证分析速度不受影响。X-MET7000 eXpress 使用牛津仪器 40 kV 的X射线光管和高分辨率高计数率硅漂移探测器(SDD)。我们的新款手持式X射线荧光分析仪拥有以下
Ux220制药行业重金属铬快速分析仪
全面应对制药行业铬(Cr)含量的快速测试,由于铬(Cr)元素荧光光子能量(5.4KeV)在非金属材质中能够很好的被激发。其他元素对铬(Cr)元素影响较小。因而能够比较准确的测试出非金属中的铬(Cr)含量。
中山X荧光光谱仪
产品介绍 www.yxcly.com http://www.yxcly.com/edx2800yggpy.html 信噪比增强器 自动切换准直器和滤光片,分别针对不同样品 独特的光路增强系统,方便用户更好地观察样品 测量 RoHS,电镀镀层,全元素分析,一机多用
NanoLED兆赫兹闪烁光源
用于TCSPC 荧光寿命测量及其他光学测量。闪烁频率10k-1MHz。多个波长供选择。产品NanoLED系列来自久负盛名的IBH公司。
AFS-2202E双道氢化物发生原子荧光光度计
技术指标 元素 As Se Pb Bi Te Sn Sb Hg Cd Zn Ge 检出限 <0.02 <0.001 <1.0 <0.05 精密度 <1.0% 线性范围 大于三个数量级
EDX P730手持式X荧光光谱仪
手持式能量色散分析仪,是为野外、现场X荧光分析应用专门开发的仪器类型。具有体积小、重量轻、普通人可手持测量的特点。它包括有害元素分析仪,合金牌号分析仪、土壤分析仪、贵金属分析仪和矿石分析仪等一系列专业型号,其中手持式能量色散矿石分析仪已广泛应用于各类地质矿样多元素检测和分析、矿渣精炼分析
RoHS检测仪--Ux-230
Ux-230 属Ux—2系列产品中的高级机型,三重射线防护系统;人性化操作界面;综合应用经验系数法、能谱FP法V8.0分析软件。可完全满足RoHS&WEEE指令、ELV指令、玩具指令、无卤化标准、REACH法规、无磷、无硫测试相关管控要求。精心设计的开放式工作曲线功能,特别适用于多